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王子計測光學(xué)軸測量

簡要描述:王子計測光學(xué)軸測量PAM-PR300
測定對象:光學(xué)薄膜、偏光板
旋轉(zhuǎn)光子法、平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、正交尼科爾旋轉(zhuǎn)法

  • 產(chǎn)品型號:PAM-PR300
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2023-12-06
  • 訪  問  量:2150
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域化工,石油,建材,電子,汽車

王子計測光學(xué)軸測量裝置PAM-PR300產(chǎn)品規(guī)格:

測定項目

偏光軸方位、配向角、位相差

測定對象

光學(xué)薄膜、偏光板

測定原理

旋轉(zhuǎn)光子法、平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法、正交尼科爾旋轉(zhuǎn)法

測定時間

約4秒(偏光軸測定)

測定波長

590nm(可選450nm,630nm等)

樣品尺寸

30mm250mm,t=20mm以下

系統(tǒng)配置

測定裝置本體,光源裝置,電腦

儀器尺寸

W380 ×H390 ×D610 mm

儀器重量

27kg

 

王子計測光學(xué)軸測量裝置PAM-PR300測量原理和精度:

 

偏光軸方位測定

位相差測定

測定方式

旋轉(zhuǎn)光子法

平行尼科爾旋轉(zhuǎn)法

測定項目

吸收軸方位

透過軸方位

位相差值、配向角

構(gòu)成

 

 

角度分解能

0.001°

0.001°

角度精度( 3σ)

0.006°

0.017°

位相差分解能

N/A

0.01nm

位相差精度( 3σ)

N/A

0.03nm

 


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